【英文标准名称】:Aerospaceseries-Connectors,electrical,rectangular,withsealedandnon-sealedrear,plastichousing,lockingdevice,operatingtemperatures-55°Cto175°C-Part007:Cableclamp-Productstandard;GermanandEnglishversionEN3545-007:2005
【原文标准名称】:航空航天系列.工作温度-55℃至175℃后部密封或非密封的、塑料壳体矩形连接器.第007部分:电缆夹.产品标准
【标准号】:DINEN3545-007-2006
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2006-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:V25
【国际标准分类号】:49_060
【页数】:18P.;A4
【正文语种】:多种语言
【英文标准名称】:Powersystemsmanagementandassociatedinformationexchange.Dataandcommunicationsecurity.Networkandsystemmanagement(NSM)dataobjectmodels
【原文标准名称】:动力系统管理和相关的信息交换.数据和通信安全.网络和系统管理(NSM)数据对象模型
【标准号】:BSDDIEC/TS62351-7-2010
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2010-09-30
【实施或试行日期】:2010-09-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:有效性;电路网络;通讯;通信规程;机密性;版权保护;数据交换;数据目标;数据安全;数据传送;电力系统;电气工程;信息交换;完整性;管理系统;绘制地图;网络控制系统;协议;电讯;电信传输法;传输协议
【英文主题词】:Availability;Circuitnetworks;Communication;Communicationprocedures;Confidentiality;Copyprotection;Dataexchange;Dataobjekt;Datasecurity;Datatransfer;Electricpowersystems;Electricalengineering;Informationinterchange;Integrity;Managementsystems;Mapping;Networkcontrolsystem;Protocols;Telecommunication;Telecommunicationtransmissionmethods;Transmissionprotocol
【摘要】:
【中国标准分类号】:L78
【国际标准分类号】:35_040
【页数】:44P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 硅抛光片表面颗粒测试方法 |
| 英文名称： | Test method of particles on silicon wafer surfaces |
| 中标分类： |
冶金 >>
金属化学分析方法 >>
半金属及半导体材料分析方法 |
| ICS分类： |
冶金 >>
金属材料试验 >>
金属材料试验综合
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| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2005-09-19 |
| 实施日期： | 2006-04-01 |
| 首发日期： | 2005-09-19 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 中国有色金属工业协会 |
| 提出单位： | 中国有色金属工业协会 |
| 归口单位： | 全国有色金属标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 北京有色金属研究总院 |
| 起草人： | 孙燕、卢立延、董慧燕、刘红艳、翟富义 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2005-12-16 |
| 页数： | 16开， 页数：10， 字数：16千字 |
| 计划单号： | 20000544-T-610 |
| 书号： | 155066.1-26924 |
适用范围
本标准规定了应用扫描表面检查系统(SSIS)对硅抛光片表面颗粒进行测试、计数和报告的程序。本标准适用于硅抛光片，也可适用于硅外延片或其他镜面抛光片(如化合物抛光片)。本标准也适用于观测硅抛光片表面的划痕、桔皮、凹坑、波纹等缺陷，但这些缺陷的检测、分类依赖于设备的功能，并与检测时的初始设置有关。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 冶金 金属化学分析方法 半金属及半导体材料分析方法 冶金 金属材料试验 金属材料试验综合